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ft-362金屬涂層表面電阻（方阻）測試儀

一、概述：本品為解決四探針法測試金屬涂層復(fù)合材料超低阻材料方阻及電阻率，最小可以測試到1uω方阻值，是目前同行業(yè)中能測量到的最小值，采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安  全、使用方便；適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素  對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。選購：本機還可以配合各類環(huán)境溫度試驗箱體使用，通過不同的測量治具滿足不同環(huán)境溫度下測量方阻和電阻率的需求.

二、廣泛用于：金屬涂層復(fù)合材料、覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽  、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ito導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ito導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，pcb銅箔膜，emi涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， emi 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等提供中文或英文兩種語言操作界面選擇，滿足國內(nèi)及國外客戶需求

三、參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍1×10-6～2×102ω/□2.電阻率范圍10-7～2×103ω-cm3.測試電流范圍1a、100ma、10ma、1ma、100ua、10ua、1ua、0.1ua4.電流精度±0.1％5.電阻精度≤0.3％6.顯示讀數(shù)液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率7.測試方式組合雙電測試方法8.工作電源輸入: ac 220v±10％ ,50hz  功 耗：<30w 9.整機不確定性誤差≤4％（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）10.選購功能選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺11.測試探頭探針間距選購： 2mm；3mm兩種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針