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低溫試驗就是將試驗樣品暴露于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的低溫環(huán)境中，并保持規(guī)定持續(xù)時間的試驗。按工作狀態(tài)不同，分為低溫貯存試驗、低溫工作試驗。其目的主要用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在在貯存、運輸和使用中對低溫環(huán)境的適應(yīng)性。
2.2 掌握情況我司可按gb t 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗a 低溫試驗方法及gjb 150.4a-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 低溫試驗.等標(biāo)準(zhǔn)要求，開展低溫貯存試驗、低溫工作試驗。可進(jìn)行常溫到-100℃試驗，試驗箱空間最大為45立方米，是目前國內(nèi)僅有的幾家可以試驗到-100℃溫度的實驗室之一，為國防航天航空產(chǎn)品試驗提供有力保障。
2.3 用途用于電子元件、家用電器、軍用裝備、汽車零部件等的低溫實驗及儲存。用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗、元器件的篩選試驗。
高溫試驗3.1 技術(shù)描述高溫試驗就是將試驗樣品暴露于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的高溫環(huán)境中，并保持規(guī)定持續(xù)時間的試驗。按工作狀態(tài)不同，分為高溫貯存試驗、高溫工作試驗。其目的主要用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在在貯存、運輸和使用中對低溫環(huán)境的適應(yīng)性。
電子電器產(chǎn)品－高低溫試驗本部分試驗的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫、高溫、高濕度、高濕度與溫度組合環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。
| 聯(lián)系人 | 需求數(shù)量 | 時間 | 描述 |
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| 暫無產(chǎn)品詢價記錄 | |||
| 采購商 | 成交單價（元） | 數(shù)量 | 成交時間 |
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| 暫無購買記錄 | |||
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