鍍層膜厚測(cè)試儀性能，可測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn)，最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米。能夠測(cè)量包含原子序號(hào)13至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測(cè)量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測(cè)定最多5層、15 種元素。 精確度領(lǐng)先于世界，精確到0.025um (相對(duì)與標(biāo)準(zhǔn)片)
數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求 ；如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、cad文件等。 統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、ucl(控制上限)、lcl(控制下限)、cpk圖、直方圖、x-bar/r圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。 xulm x射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
膜厚儀操作 winwif系統(tǒng)、win系統(tǒng)及fim系統(tǒng)，其最適合用于微電子器件、數(shù)據(jù)偶合器、光通訊和數(shù)據(jù)貯存、半導(dǎo)體、光通訊、微電子、光子學(xué)、無(wú)源器件和薄層磁頭金屬化分析等。
膜厚儀操作，博曼膜厚儀能提供各類金屬層、合金層厚度的快速、準(zhǔn)確、穩(wěn)定、無(wú)損的測(cè)量，同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，不單性能優(yōu)越,而且價(jià)錢超值，同比其他牌子相同配置的機(jī)器菲希爾鍍層測(cè)厚儀 為您大大節(jié)省成本。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的首選
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